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晶振系列

首頁(yè)進(jìn)口晶振Pericom晶振,FL晶振,3225晶振,SMD晶體

    Pericom晶振,FL晶振,3225晶振,SMD晶體

  • 規(guī)格型號(hào):56490911
  • 頻率:12.000MHZ~66.000MHZ
  • 尺寸:3.2*2.5*0.65mm 詳細(xì)資料請(qǐng)查看PDF
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  • 產(chǎn)品描述:常用于在辦公自動(dòng)化,家電相關(guān)電器領(lǐng)域及Bluetooth,Wireless LAN等短距離無(wú)線通信等領(lǐng)域.

Pericom晶振,FL晶振,3225晶振,SMD晶體
頻率范圍:12.000MHZ~66.000MHZ
激勵(lì)電平: 10μW (Max. 100μW )
負(fù)載電容: 16PF
工作溫度: -20℃~+10℃
保存溫度: -55℃~+125℃
精度 ±10ppm,±20ppm,±30ppm,±50ppm
捆包單位:3000pcs/reel
尺寸:普通小型3.2*2.5*0.65
應(yīng)用:車載藍(lán)牙耳機(jī),行車記錄儀,汽車?yán)走_(dá),車載導(dǎo)航系統(tǒng),車載顯示屏設(shè)備,車載冰箱,車載路由器,車載MV
等產(chǎn)品。

        Pericom我們是一家專為計(jì)算、通訊與消費(fèi)產(chǎn)品市場(chǎng)提供集成化連接、先進(jìn)時(shí)頻和信號(hào)完整性解決方案的、快速增長(zhǎng)的晶振半導(dǎo)體公司。我們的技術(shù)為高帶寬、高速串行連接協(xié)議所引起的挑戰(zhàn)提供了系統(tǒng)設(shè)計(jì)解決方案。
       在Pericom,質(zhì)量是全體員工共有的理念,其質(zhì)量管理體系被設(shè)計(jì)為確保所有最終端產(chǎn)品都處于有效運(yùn)作狀態(tài)。 Pericom的石英晶振質(zhì)量方針是為我們的客戶提供世界級(jí)的產(chǎn)品的承諾。


        Pericom晶振,FL晶振,3225晶振,SMD晶體的生產(chǎn)公司百利通亞陶是美國(guó)創(chuàng)立的一家晶振公司,在臺(tái)灣設(shè)立工廠,3225晶振已被確立為最適合用于汽車電子領(lǐng)域的貼片石英晶振,一直以來(lái)都被世界各大汽車生產(chǎn)商爭(zhēng)相采用,FL晶振同時(shí)符合了歐洲聯(lián)盟的ROHS規(guī)定,和汽車電氣委員會(huì)的AEQ-Q200的標(biāo)準(zhǔn),可放心使用。

百利通亞陶晶振型號(hào) FL晶振,亞陶貼片晶振
頻率范圍 12.000MHZ~66.000MHZ
頻率公差(25℃)  ±10ppm,±20ppm,±30ppm,±50ppm可指定
頻率穩(wěn)定度超過(guò)工作溫度范圍 ±30ppm,±50ppm 可指定
操作溫度范圍  -20℃~+70℃,可指定
并聯(lián)電容CO 5pF Max.
驅(qū)動(dòng)電平 10μW (Max. 100μW )
負(fù)載電容 8pF~32pF可指定
老化(25℃) ±3 ppm /年最大。
存儲(chǔ)溫度范圍 -55℃~+125℃



操作
請(qǐng)勿用鑷子或任何堅(jiān)硬的工具,夾具直接接觸SMD晶振的表面。
使用環(huán)境(溫度和濕度)
請(qǐng)?jiān)谝?guī)定的溫度范圍內(nèi)使用產(chǎn)品。這個(gè)溫度涉及本體的和季節(jié)變化的溫度。在高濕環(huán)境下,會(huì)由于凝露引起故障。請(qǐng)避免凝露的產(chǎn)生。 
激勵(lì)功率
在晶體單元上施加過(guò)多驅(qū)動(dòng)力,會(huì)導(dǎo)致石英晶體特性受到損害或破壞。電路設(shè)計(jì)必須能夠維持適當(dāng)?shù)募?lì)功率 (請(qǐng)參閱“激勵(lì)功率”章節(jié)內(nèi)容)。
負(fù)極電阻
除非振蕩回路中分配足夠多的負(fù)極電阻,否則振蕩或振蕩啟動(dòng)時(shí)間可能會(huì)增加(請(qǐng)參閱“關(guān)于振蕩”章節(jié)內(nèi)容)。
負(fù)載電容
振蕩電路中負(fù)載電容的不同,可能導(dǎo)致進(jìn)口晶振振蕩頻率與設(shè)計(jì)頻率之間產(chǎn)生偏差。試圖通過(guò)強(qiáng)力調(diào)整,可能只會(huì)導(dǎo)致不正常的振蕩。在使用之前,請(qǐng)指明該振動(dòng)電路的負(fù)載電容(請(qǐng)參閱“負(fù)載電容”章節(jié)內(nèi)容)。


輸出波形與測(cè)試電路
1.時(shí)序表

2.    測(cè)試條件
(1)   電源電壓
   超過(guò) 150µs,直到電壓級(jí)別從 0 %達(dá)到 90 % 。
  電源電壓阻抗低于電阻 2Ω。
(2)   其他
   輸入電容低于 15 pF
   5倍頻率范圍或更多測(cè)量頻率。
   鉛探頭應(yīng)盡可能短。
   測(cè)量頻率時(shí),探頭阻抗將高于 1MΩ。當(dāng)波形經(jīng)過(guò)放大器時(shí),可同時(shí)進(jìn)行測(cè)量。
(3)   其他
    CL包含探頭電容。
    應(yīng)使用帶有小的內(nèi)部阻抗的電表。
    使用微型插槽,以觀察波形。
(請(qǐng)勿使用該探頭的長(zhǎng)接地線。)

3.    測(cè)試電路

FL :在頻率電壓控制功能時(shí),進(jìn)行連接
1CMOS 負(fù)載
型號(hào):

FL
2 抗低,電容負(fù)載
型號(hào):

FL
              
3 TTL 負(fù)載
型號(hào):

FL
               
4 LV-PECL 負(fù)載
型號(hào):

FL
                 
5LV-PECL 負(fù)載
型號(hào):

FL
6 LV-PECL 負(fù)載
型號(hào):

FL
7 LVDS 負(fù)載
型號(hào):

FL
8 HCSL 負(fù)載
型號(hào):

FL

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